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テストアプリケーション

3つの特色

当社の3つの特色について

私たちは半導体製造プロセスの後工程、特にテスト技術と、テスト技術を半導体以外の分野へ応用した検査装置を提供いたします。
私たちは、次に挙げる3つの言葉をキーワードとして、お客様へご提案させていただきます。

生産コスト

生産コストの削減

私たちは生産コストを下げることにおいて、何よりも「テストコスト」を下げることを得意としています。
そこで私たちはテストコストを下げる手法として以下の2つの方法を構築、提供いたします。

まず1つ目は【テストタイム】の短縮です。
これまでのテスト方法で半導体デバイスに複数のテストを個々に行う様なシーケンシャルな方法で行われていらっしゃる場合、私たちがお役にたてるかもしれません。
これまでの1つ1つ個別のテストを行っていた手間を、デジタル信号技術を用いて複数のテストを同時に行うことを可能に致します。
現状のテスト時間を半減、または全体で30秒かかっているテストを15秒でといったように、テスト時間の短縮を図ります。

2つ目は【多数個測定】です。
半導体デバイス/その他製品を1個取りでテストする構成でしたら、こちらもお役にたてるかもしれません。
私たちが提供する検査技術により半導体デバイスを2個同時や4個同時というように複数個同時にテストを可能に致します。
単なるリソースの追加ではなく、BOST等のModuleをパッケージとしてご提供することで、テスタの構成を変更せずに同測数を増やします。
このテストコストの向上(削減)により、一日の生産スピードの向上と生産コストが大きく軽減され 設備の規模(設備投資)、人件費の面でもコストが軽減されます。

コンセプトはデジタル信号をふんだんに使った技術

従来の方式では1つの半導体デバイスに複数のテストを1つづつ試験・計測して おり、生産ラインのボトルネックの1つとし大きく影響していました。
私たちは、デジタル信号処理技術をふんだんに使った測定を行い複数のテスト を一括して試験する『一括取り込みテスト』という方法を実現し、その方法、ノウハ ウを技術コンセプトとしています。
また、私たちメンバーの中には長年のテスタ技術経験者がいます。彼らの豊富な経験から培った ノウハウを駆使し、日々テスト技術の向上に反映しております。

コストを抑えるテスト技術のイメージ図

試験対象となる半導体デバイス、あるいは製品に対して、テストでは入力信号を与えて、そのレスポンスを測定し解析することで、良品/不良品の判定を行います。
弊社のコンセプトでは、できるだけ多くのテストを1回の波形取り込みで実現することをめざしております。
また、ディジタル信号処理を応用することで、さまざまな尺度の検査結果を得ることが可能となります。
デバイスの機能/仕様上より厳密な評価尺度をテストに用いることで、テストタイムを短縮しながら、歩留まりの改善をご提案いたします。

更に、複数デバイスを2個,4個とハードウェア構成を拡張することにより、複数個の半導体デバイスの同時テストを可能にします。
※お客様の予算と規模から最適な構成をご提案します。

■デバイスを1つ1つシーケンシャルに試験する従来のテスト方式

 半導体デバイスに個々のテストを1つづつ行い、合否判定をおこなっています。


図式1


■私達が提供するデジタル信号をふんだんに使ったテスト方式(テスト技術)

 複数デバイスを同時にテストすることでテストコストを下げます。


図式2


稼働率

稼働率が重視される点

稼働率において、製造装置の故障というトラブルは稼働率およびコストへ大きく影響します。
試験装置は精密機器ですので、消耗品も多く経年劣化による故障も発生いたします。

私たちは第一に「壊れにくい」という観点から製造装置を構築します。
そしていつトラブルが発生しても「復旧しやすい」「修理しやすい」「短い時間で復旧できる。」を基本に 短時間に早く復旧し再稼動できるかように努めています。

製造装置の故障を未然に防ぐまたは素早く感知する為に、製造装置自身が故障していることを検知し知らせる 自己診断機能を提供します。
故障箇所の検知や故障からの復旧はもちろんのこと、故障の解析原因の調査の短縮、消耗品の交換のお知らせなど稼働率アップに繋げています。

自己診断機能とは?

自己診断機能は、機械自身が自己の故障の箇所を検知しユーザーに知らせるという機能です。

半導体検査装置には一般的に自己診断機能を有しておりますが、その他の分野の検査装置では、自己診断機能を有していないものが多く見受けられます。
半導体検査装置でも、アプリケーションエリアに設けられたBOSTや回路は、自己診断機能を有さないものが見受けられます。
私たちは検査装置のあらゆる場面で、自己診断機能をできるだけ多く提供することで、装置故障時の生産復帰への時間の短縮を常に意識した設計を行っております。

ラインの故障への取り組み

私たちは、担当するテスト装置だけではなく、常に生産ライン全体を見ています。
生産ラインには複数のテスト、組み立て、搬送、炉etcといった、たくさんの工程ごとの設備が御座います。
私たちは生産ライン全体を見た上で、各工程の各専門業者さんとしっかりと連携を構築する事を常に心がけております。

私たちの豊富な経験から、生産ラインのなかで、故障しやすい箇所の予見や特定、 または未然に防ぐための知識を持っており、その技術やノウハウを事前に提供する事ができます。

長年の経験から、生産設備が正常に稼動することに注力し、 周辺装置メーカーとの連携と調整を図り、問題点をしっかりと切り分け、常に生産効率をゴールに見据え 最短でたどり着くために全力で取り組むのが私たち技術スタッフの特徴です。

納期

私たちは検査装置の設計/製造においてお客様からの様々なご要望を具現化します。

その中には半導体デバイスのさまざまな要件を満たすためのテスト項目があります。
製造装置メーカーはご要望をいただいてから実際に装置の製造を完了するまでのスピードがもっとも重要になります。 製造までに時間がかかってしまうと利益性も下がり、納期も遅れます。
また、完成に1年もかかってしまった等となると機械の性能そのものが古いものにもなりかねません。

私たちはプラットホーム基板と呼ばれるベースシステムからモジュールを積み上げていくプラットフォームを 提供しています。プラットフォームにより、短納期とコストパフォーマンスをご提供します。

プラットホームとは

プラットホーム基板をベースシステムとし、検査装置の要件を満たす複数のモジュール基板、制御ソフトウェアを 積み上げていくプラットホーム形式のシステムにより短納期とコストパフォーマンスを実現します。
更にこの方式により、機能のカスタマイズや計測モジュールの追加など、フレキシブルな対応が可能です。


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